标题:粗糙度算术平均值用轮廓仪测量-测量显微镜

信息分类:站内新闻   作者:yiyi发布   时间:2014-11-26 23:44:07 将本页加入收藏

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正文:

粗糙度算术平均值用轮廓仪测量-测量显微镜


粗糙度的测量

  目前的表面测量技术水平还不可能将一个物体的实际表面准确表征出
来,并确定它的真正质量。

  测量粗糙度的仪器分为按接触原理工作的和按光学干涉原理工作的两
类。接触式仪器所提供的是一种一维的表面图形,而光学干涉显微镜所
显示的则是一种二维的表面图形。采用机电接触式轮廓仪,则不但可提
供表面的轮廓图。而且不可以直接示出各种粗糙度尺寸。

  当用一种粗糙度尺寸,例如R。,表明一个工件的粗糙度时,需要在
工件不同位置上进行一系列测量,以便从这些R.值中求出一个平均值来
。测点的数目取决于这些分别测量数据的离散程度。

  由于至今还没有一种测量粗糙度的仪器能准确地按标准的E-制或M-制
工作(结构上有困难),所以在比较由各种机电式轮廓仪测出的粗糙度
时,必须注意下列两点:

  1.这些仪器必须有相同的基准制,或者同样的探测器结构;
  2.测量必须在轮廓的同一段长度上进行,而且都不用或者都用相同的
波纹滤除器。

  由此可以得出下列表示表面粗糙度值的合适的数据,
如:粗糙度算术平均值用轮廓仪测量;










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